電子天平讀數(shù)不穩(wěn)且持續(xù)跳動的原因可歸納為以下四類：

一、環(huán)境干擾

1. ‌機械振動‌
   • 地震、設備運行或人為碰撞引發(fā)的振動會導致天平底座和傳感器震動，破壞力平衡16。
2. ‌氣流擾動‌
   • 空調送風、門窗通風或人員頻繁走動形成空氣流動，直接影響稱量穩(wěn)定性23。
3. ‌溫度波動‌
   • 實驗室溫度劇烈變化或陽光直射導致傳感器靈敏度異常，引發(fā)數(shù)值漂移23。
4. ‌電磁干擾‌
   • 強磁場（如電磁設備）或靜電積累（干燥樣品/非導電容器）干擾電磁力平衡13。

二、設備狀態(tài)異常

1. ‌校準問題‌
   • 未定期校準、校準失效或溫度變化后未重新校準，導致稱量基準誤差23。
2. ‌調平失效‌
   • 天平放置不水平或調平腳松動，重力分量分配不均12。
3. ‌電源異常‌
   • 電壓不穩(wěn)、電池電量不足或供電線路干擾引發(fā)電路信號異常12。

三、操作與樣品問題

1. ‌樣品特性‌
   • 樣品溫度與室溫差異大（如高溫/冷凍樣品）、吸濕性或揮發(fā)性物質導致質量持續(xù)變化23。
2. ‌稱量操作不當‌
   • 樣品未置于稱盤中央、稱盤邊緣擦碰容器，或底座殘留異物干擾稱重37。

四、硬件故障

1. ‌傳感器異常‌
   • 傳感器老化、接觸不良或損傷導致信號輸出不穩(wěn)定67。
2. ‌異物卡入‌
   • 灰塵、碎屑進入天平內部結構，阻礙傳感器或機械部件運行78。

‌優(yōu)先級建議‌：多數(shù)情況下由環(huán)境干擾或操作失誤引發(fā)（約80%以上），需優(yōu)先排查；若排除后問題仍存，再檢查設備校準與硬件狀態(tài)23。